Использование ИИ/МО для поиска и корреляции данных испытаний ИС

Что является причиной низкого выхода годных пластин? Обычно это связано с изменениями в конструкции или технологическом процессе, но иногда проблемы с выходом годных возникают даже при неизменной производительности от одной производственной партии к другой. Поиск причины требует тщательного исследования, и наилучшим подходом к выявлению проблем является сбор данных о конструкции, процессе и производстве, а также их корреляция по дате и времени, по оборудованию, использовавшемуся для испытаний и контроля, по камере, в которой производился процесс производства, и по другим причинам, вызвавшим низкий выход годных. Афтхар Аслам, генеральный директор yieldWerx, рассказывает Semiconductor Engineering о том, как найти первопричину на десятках этапов процесса и контроля, почему для этого необходимы технологии искусственного интеллекта и машинного обучения и почему многокристальные сборки и чиплеты ещё больше усложняют этот процесс.