Рентгеновская дифрактометрия - практические аспекты. Часть 1. Курс основы нанохимии и нанотехнологий. Кристаллические системы (сингонии). Решетки Браве. Присвоение индексов Миллера отражающим плоскостям. Тайм-коды: 00:00| Приветствие, план на видео, группы методов анализа 01:35| Возможности рентгеновской дифрактометрии 02:40| Немного вводных определений 05:43| Сингонии. Элементарная ячейка Типы решеток. Решетки Браве 22:03| Присвоение индексов Миллера отражающим плоскостям Дополнительные ссылки: Образовательная группа Kemister:
https://vk.com/kemisters Ссылка на презентацию:
Плейлист • Основы нанохимии и нанотехнологий Рентгеновская дифрактометрия. Часть 1 • Основы нанохимии и нанотехнологий. Ре... Рентгеновская дифрактометрия. Часть 2 • Основы нанохимии и нанотехнологий. Ре...
