Характеристическая матрица слоя

Эта лекция знакомит с мощным математическим аппаратом для анализа распространения света в многослойных оптических системах. Вы узнаете о методе характеристических матриц, который позволяет рассчитывать коэффициенты отражения и пропускания для сложных покрытий, состоящих из множества тонких плёнок. Рассматривается принцип представления каждого слоя в виде матрицы, связывающей компоненты электромагнитного поля на его границах. Лекция показывает, как последовательное перемножение таких матриц позволяет описать оптические свойства всей многослойной структуры в целом и решить задачу определения полей во всех слоях системы. Этот подход открывает возможности для точного расчёта и проектирования современных оптических элементов - от просветляющих покрытий до интерференционных зеркал. Лектор Александр Сергеевич Чирцов