Курс Основы нанохимии и нанотехнологий. Модуль 2. Рентгеновская дифрактометрия. Часть 1 Плейлист • Основы нанохимии и нанотехнологий Краткое содержание: Коротко об открытии X-лучей Основы метода РДМ Дифракция и интерференция Методы получения дифракционной картины Закон Вульфа-Брегга Тайм-коды: 00:00| Приветствие, план на видео, группы методов анализа 04:21| Краткая история открытия рентгеновского излучения 08:11| Дифракция рентгеновских лучей. Понятие упругого рассеяния. Основы метода РДМ 11:22| Дифракция и интерференция 16:22| Методы получения дифракционной картины: метод Лауэ 20:41| Метод вращения кристалла. Рентгеноструктурный анализ белков. Синхротронное излучение 26:20| Метод порошка 30:24| Кристаллографические плоскости 31:54| Условия дифракции, максимума и минимума интерференции 35:11| Отражение рентгеновских лучей от кристаллографических плоскостей. Условие (закон) Брегга-Вульфа 42:10| Разность хода длин волн наблюдается при максимуме интерференции ;) Дополнительные ссылки: Образовательная группа Kemister:
https://vk.com/kemisters Ссылка на презентацию:
Рентгеновская дифрактометрия. Часть 2 • Основы нанохимии и нанотехнологий. Рентген...
